研究虛擬儀器技術(shù)提高電子兼容性
電磁干擾（EMI）測(cè)試和電磁敏感度（EMS）測(cè)試。電磁兼容性測(cè)試的特點(diǎn)是需要協(xié)調(diào)工作的儀器種類和型號(hào)繁多，試驗(yàn)的項(xiàng)目繁雜。精度不夠高�；谝陨蠋c(diǎn)，搭建自動(dòng)化電磁兼容測(cè)試系統(tǒng)勢(shì)在必行。NI公司的LabVIEW具有開(kāi)發(fā)周期短、容易操作、方便二次開(kāi)發(fā)等優(yōu)點(diǎn)。因此，該系統(tǒng)采用NI公司的LabVIEW來(lái)搭建。此外，與其他的硬件標(biāo)準(zhǔn)相比，GPIB總線具有傳輸速率高，可同時(shí)連接多個(gè)設(shè)備，便于擴(kuò)展總線長(zhǎng)度等特點(diǎn)，因此總線控制上選用GPIB總線。由接收天線接收后，通過(guò)射頻開(kāi)關(guān)，天線公用器，進(jìn)入測(cè)量接收機(jī)；信號(hào)通過(guò)突發(fā)性測(cè)試場(chǎng)探頭，進(jìn)入數(shù)字示波器。在EMS測(cè)試中利用干擾信號(hào)源對(duì)受試設(shè)備進(jìn)行電磁干擾，同時(shí)場(chǎng)探頭或者功率探頭測(cè)試受試設(shè)備處的場(chǎng)的大小，并根據(jù)場(chǎng)強(qiáng)計(jì)或者功率計(jì)的讀數(shù)實(shí)時(shí)地調(diào)整信號(hào)源的大小以保證受試設(shè)備處場(chǎng)的大小滿足標(biāo)準(zhǔn)要求。試驗(yàn)過(guò)程中利用攝像機(jī)和監(jiān)視器來(lái)監(jiān)視受試設(shè)備是否能夠正常工作。電磁兼容自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)軟件體系軟件結(jié)構(gòu)軟件的主要功能模塊設(shè)為2個(gè)模塊：EMI測(cè)試模塊和EMS測(cè)試模塊。
EMI試驗(yàn)前應(yīng)設(shè)置好接收機(jī)的儀器地址，掃描的起始頻率和終止頻率，以及試驗(yàn)報(bào)表保存的地址，并選擇好試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)。試驗(yàn)時(shí)，標(biāo)準(zhǔn)極限值將和接收機(jī)掃描的結(jié)果一起實(shí)時(shí)顯示在屏幕上，因此可以一目了然地判斷出測(cè)量結(jié)果是否超標(biāo)。EMS試驗(yàn)中由于放大器輸入信號(hào)的最高門(mén)限值限制，信號(hào)源不能無(wú)限增大輸出，從而造成在某些頻段受試設(shè)備處的電場(chǎng)強(qiáng)度值無(wú)法達(dá)到規(guī)定的極限要求。在系統(tǒng)軟件中針對(duì)這些情況做特殊處理，編制特殊的測(cè)試流程，同時(shí)將沒(méi)有達(dá)到國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求的頻段加以標(biāo)記，為測(cè)試結(jié)果提供更有價(jià)值的數(shù)據(jù)。軟件集成的考慮電磁兼容測(cè)試的內(nèi)容多，項(xiàng)目繁雜。本系統(tǒng)所針對(duì)的試驗(yàn)有十幾個(gè)。如果將每個(gè)試驗(yàn)做成單獨(dú)的程序，則有十幾個(gè)程序，加大了用戶操作的復(fù)雜度。本軟件系統(tǒng)利用LabVIEW的模塊化編程思想，先將每個(gè)試驗(yàn)打包成1個(gè)子VI，再將十幾個(gè)子VI集成在了2個(gè)主模塊下面。通過(guò)選擇不同的標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定具體的試驗(yàn)項(xiàng)目，從而簡(jiǎn)化了用戶的操作。此外，本軟件系統(tǒng)利用LabVIEW的報(bào)表工具，試驗(yàn)的結(jié)束以后，軟件可以自動(dòng)生成了測(cè)試報(bào)表。
報(bào)警模塊和電磁閥控制模塊需要將CPLD產(chǎn)生的控制信號(hào)經(jīng)三極管放大后分別接到蜂鳴器和電磁閥上，本設(shè)計(jì)采用了NPN三極管的集電極輸出模式。本設(shè)計(jì)中采用的其他器件均為貼片元器件，如貼片電容、貼片電阻、貼片三極管等，盡量使PCB板子薄些，以便做成的夾具厚度小，利于生產(chǎn)中的操作。由于本設(shè)計(jì)采用七段數(shù)碼顯示器來(lái)顯示所要打的孔的編號(hào)和錯(cuò)誤次數(shù)，因此需要LED驅(qū)動(dòng)芯片來(lái)驅(qū)動(dòng)七段數(shù)碼顯示器，設(shè)計(jì)中采用了74LS47芯片來(lái)驅(qū)動(dòng)七段數(shù)碼顯示器。結(jié)論本文所設(shè)計(jì)的智能夾具可以幫助工人按照規(guī)定的順序擰緊屏蔽蓋上的螺釘，使屏蔽蓋受力均勻，從而提高了電子設(shè)備的電磁兼容性。該夾具經(jīng)過(guò)在生產(chǎn)線上測(cè)試后性能比較穩(wěn)定，可靠性高，較好地實(shí)現(xiàn)了生產(chǎn)過(guò)程中所需要的各項(xiàng)功能，提高了產(chǎn)品的質(zhì)量。
測(cè)試結(jié)果分析手動(dòng)測(cè)試RS103時(shí)需要1個(gè)多小時(shí)的時(shí)間，而采用本自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)后只需要半個(gè)小時(shí)就可以得出測(cè)試結(jié)果。手動(dòng)測(cè)試RS103時(shí)至少需要3個(gè)人，1個(gè)控制信號(hào)源，1個(gè)監(jiān)控場(chǎng)強(qiáng)計(jì)或功率計(jì)，1個(gè)監(jiān)控受試設(shè)備。而采用本自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)后，這些工作可由1個(gè)人獨(dú)立完成。結(jié)論利用LabVIEW搭建自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)為軟件的二次開(kāi)發(fā)和后續(xù)擴(kuò)展留下了極大的空間。同過(guò)去的手動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)相比，在以下4方面都有顯著的提高：首先，提高了測(cè)試效率；其次，提高了測(cè)試精度，杜絕了手動(dòng)測(cè)試不可避免的不規(guī)范性，將測(cè)試誤差控制在標(biāo)準(zhǔn)允許的范圍之內(nèi)；第三，節(jié)省了人力資源；最后，采用本測(cè)試系統(tǒng)規(guī)范了操作儀器的過(guò)程，加強(qiáng)了對(duì)儀器的保護(hù)。該自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)有待于被廣泛地推廣和應(yīng)用。http://www.52lvi.cn
