面積測(cè)量?jī)x的新型微機(jī)系統(tǒng)
一般電子式的面積測(cè)量系統(tǒng)都是采用同樣的原理來(lái)工作的，也就是將面積信號(hào)轉(zhuǎn)化成數(shù)字信號(hào)，然后再在數(shù)字集成電路上進(jìn)行數(shù)據(jù)的顯示。但是由于存在著一定的誤差已經(jīng)不被大家廣泛使用了，并且數(shù)字集成電路的系統(tǒng)是使用起來(lái)比較困難的，而且對(duì)技術(shù)的要求也是比較高的，一般小型企業(yè)是無(wú)法承受的。為此我們研制了面積測(cè)量?jī)x，外形輕巧，操作方便，價(jià)格也實(shí)惠，已經(jīng)被大家廣泛的接受了。一種應(yīng)用微機(jī)的面積測(cè)量系統(tǒng),可用辛普森方法減小測(cè)量誤差。
它不僅能用于面積測(cè)量,還能用來(lái)測(cè)量距離參數(shù)和確定物體的矩心位置,使用十分方使。系統(tǒng)不用光敏晶體管矩陣廠 ’ 而是用x一y記錄儀對(duì)物體進(jìn)行連續(xù)掃描,進(jìn)行測(cè)量,因而特別適用于側(cè)盤較小面積的、物體。這樣物體的面積被劃分為許多寬度相等的狹長(zhǎng)條,其長(zhǎng)度由物體的輪廓決定,其面積可近似地用一個(gè)寬度為d的矩形表示。通過(guò)計(jì)算每一條塊的長(zhǎng)度,就可得到物體的總面積。顯然,若光敏晶體管的掃描速度不變,則每一條塊的長(zhǎng)度與它被物體遮住的時(shí)間成正比,用時(shí)鐘脈沖在此時(shí)間內(nèi)計(jì)數(shù),就可測(cè)得每一條塊的長(zhǎng)度。
當(dāng)光敏晶體第一次檢測(cè)到物體時(shí),微機(jī)便開始連續(xù)記錄和存貯每個(gè)掃描條塊的長(zhǎng)度,直到整個(gè)掃描過(guò)程結(jié)束。掃描結(jié)束后光敏晶體管回到其初始位置。微機(jī)則應(yīng)用辛普森公式處理采樣信號(hào),計(jì)算出面積。系統(tǒng)不斷地重復(fù)進(jìn)行掃描、測(cè)量、計(jì)算,同時(shí)顯示測(cè)量結(jié)果,直至測(cè)量另一個(gè)物體時(shí)為止。
它改變了傳統(tǒng)的設(shè)計(jì)方法,大大減少了設(shè)計(jì)成本，使設(shè)計(jì)自動(dòng)化,為工程師消除了許多工作雜務(wù)。硅編譯系統(tǒng)接受芯片的結(jié)構(gòu)說(shuō)明,自動(dòng)完成模塊、邏輯、電路和布局階段的設(shè)計(jì)。一種設(shè)計(jì)的幾何,功能、特性和測(cè)試考慮需要系統(tǒng)支持。幾何信息有助于集成電路的制造;功能特征用于模擬設(shè)計(jì)過(guò)程,使工程師在實(shí)現(xiàn)該電路之前就能驗(yàn)證其性能指標(biāo),特性考慮是敘述該電路的尺寸、速度和功耗,使工程師能判斷性能指標(biāo)的可行性, 測(cè)試信息能捕捉最終集成電路中的制造缺陷。在設(shè)計(jì)過(guò)程中必須保持拓樸學(xué)的、電的、標(biāo)的和邏輯的完整性。
拓樸完整性用以檢查形成的幾何圖形及功能,使之不違返實(shí)際設(shè)計(jì)規(guī)則和不改變?cè)δ堋ｋ娡暾允怪ＷC遵守各種電學(xué)規(guī)定,例如電壓電平、信號(hào)負(fù)載、噪音電平。每個(gè)信號(hào)的時(shí)標(biāo)屬性必須與電路要求相匹配。電路各部分的邏輯極性傳送途徑必須在整個(gè)設(shè)計(jì)過(guò)程中保持不變。中國(guó)糧油儀器網(wǎng) http://www.52lvi.cn/
